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電路板無鉛回焊之熱循環(huán)試驗

2020-05-19 12:01:49 576

一、試驗之目的

電路板無鉛回焊對厚高多層板除了會造成板材的爆裂外,其次就是會將鍍通孔的銅孔壁拉斷,主要原因當然是板材在Z軸的CTE不管是α1 (55-60ppm/℃)或是α2(250ppm/℃)兩者的Z軸熱脹率(Z-CTE),都遠遠超過銅壁的17 ppm/℃。也就是處于Tg以下者其板材約為銅壁的3倍,Tg以上時更將拉高到12-20倍之多。為了多層板的通孔在多次回焊中不致被拉斷失效起見,刻意利用溫度循環(huán)試驗(TCT) 試圖找出三件事,即

(1)回焊峰溫對板材與通孔的影響何在?

(2)回焊的次數(shù)可達幾次?

(3)基材的可靠度又如何?

兩種板材與銅層

圖1、此圖為兩種板材與銅層,在不同溫度中其CTE的比較,可清楚見到銅層變化的斜率遠低于兩種板材的變化。

二、電路板製做

電路板生產(chǎn)廠家再利用四種板材,分別又製做了共含880個互連通孔與30mm厚的8層電路板,其孔銅厚度約20 μm 。TCT試驗前首先模擬峰溫分別是224℃及250℃之有鉛與無鉛回焊,然后執(zhí)行air to air溫度循環(huán)試驗(TCT),以觀察板材與鍍通孔的可靠度。該TCT的條件為:

●低溫- 55℃放置5分鐘。

●以14分鐘做為飆升高溫的過渡時間,刻意拉長的原因是讓厚板的內(nèi)外溫度能夠趨于一致,以減少應力的作崇。

●高溫125℃放置5分鐘。

●再以14分鐘轉(zhuǎn)移到低溫如此即完成一次循環(huán)

經(jīng)由長時間不斷熱脹冷縮的拉扯下,將使得銅孔壁與互連孔環(huán)等銅材結(jié)晶變得較為鬆弛,以致直流測試時的電阻也為之逐漸升高,一旦所測之電阻値超出測試前的10%時,即表電路板已經(jīng)到達失效的地步了 。然后即可進行微切片之失效分析。

 

檢測電鍍銅可靠度用的菊鏈式電路板

圖2、此為檢測電鍍銅可靠度用的菊鏈式電路板

表1、通孔可靠度TCT試驗所用電路板之熱機性質(zhì)

通孔可靠度TCT試驗所用電路板之熱機性質(zhì)

 

三、回焊峰溫對通孔可靠度影審

當回焊之峰溫拉高時,將會對板材與銅孔壁造成強大的熱應力。故在對板材與通孔進行TCT可靠度試驗之前,刻意先將電路板模擬回焊2次到6次,以觀察回焊對于后續(xù)可靠度的影響何在?過程中發(fā)現(xiàn)當回焊峰溫拉高25℃時,其失效前之溫度循環(huán)次數(shù)竟然會減少達25%之多,實在令人不得不對回焊曲線確應小心處理謹愼取捨,儘量避免峰溫的過高,以免造成諸多的后患。

 

HN板材所製的電路板

圖3、此為HN板材所製的電路板,先經(jīng)5次回焊的預先考驗,再進行TCT試驗,

圖中趨勢線即其失效百分比與所對應的循環(huán)次數(shù),可明顯看出無鉛回焊250℃,

要比有鉛回焊224℃在可循環(huán)的次數(shù)上減少了很多。

 

 

四、回焊次數(shù)對通孔可靠度的影審

事實上不但回焊峰溫會帶來強大應力,多次回焊的每次強熱也照樣會在銅孔壁與基材中累積應力,此種回焊次數(shù)必然會對可靠度造成劣化效應。于是德商的硏究者,又將電路板刻意先經(jīng)有鉛無鉛多次回焊的考驗,然后再進行有關(guān)可靠度的TCT試驗,以觀察彼此間的對應關(guān)系。下圖 ,即為其等所得之結(jié)果。

 

四種板材製做的電路板

圖4、此為全部四種板材製做的電路板,先經(jīng)兩種各5次之回焊,

然后再進行TCT試驗,從所得對數(shù)失效率之分佈情形,

也可看出相同循環(huán)次數(shù)下無鉛回焊的失效百分比,要比有鉛回焊者多出約25-30% 。

 

HN板材所做之電路板

圖5、此為HN板材所做之電路板,先經(jīng)多次無鉛回焊之預先折磨,再進可靠度之TCT試驗。

由圖中針對TCT次數(shù)與失效百分比的四條斜線可知,

先經(jīng)6次回焊者要比2次回焊者,不但在失效上要提早而且比例上也增多。

 

TCT試驗

圖6、此為四種板材所製作的電路板,首先模擬多次有鉛回焊,然后再進行TCT試驗。

圖示者即為其到達失效之次數(shù)與事先多次回焊所對應失效比例之循環(huán)對照圖,

亦可見到6次回焊者要比2次者,不但提前失效且比例亦較高。但其間的差距已較下圖中之無鉛者更為拉近。

 

多次之模擬無鉛回焊

圖7、此為四種板材所製做之電路板,先經(jīng)多次之模擬無鉛回焊,

然后再進行TCT試驗,所得失效次循環(huán)次數(shù)與回焊之數(shù),

以及再對應失效比率三者之對照圖,其回焊次數(shù)間的失效分佈要比有鉛者拉開得更遠。

 

 

五、討論

●銅箔或銅壁與基材兩者在CTE上的差異,將成為強熱折磨后的開裂與斷孔的直接原因,增加回焊次數(shù)當然會縮短通孔壽命。

●發(fā)現(xiàn)斷孔的主要兇手是回焊峰溫的過高(例如250℃以上),影響通孔可靠度的次要因素才是回焊次數(shù)的多少,且首次回焊的影響力又大于其他后續(xù)之回焊次數(shù)。

●當孔銅延伸率十分良好時(例如20z%冗以上),通孔耐強熱的可靠度自然也會好,不過多次回焊后其延伸率亦將逐漸變差。

標簽: pcba

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