元器件間距過小。

較高元器件附近未留足空間，飛針等設(shè)備無法操作。

測(cè)試點(diǎn)隱藏或遮蔽（如測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)在元器件底部）而無法接觸電測(cè)試點(diǎn)。

測(cè)試點(diǎn)尺寸、間距過小和焊盤可焊性涂層材料用OSP。